7.1 X射线设备防护性能检测要求
X射线设备防护性能应按卫生计生行政部门规定进行验收检测和定期状态检测。X射线设备防护性能检测要求应符合表5的规定。
表5 X射线设备防护性能检测要求
| 检测项目 | 标准中
条号 |
验收检测 | 状态检测 | 检查方法 | ||
| 要求 | 要求 | |||||
| 焦皮距 | 4.2.1
4.4.5 4. 5.2 4.6.1 4.7.1 |
>30cm(透视）
见表1(牙科） >20cm(乳腺） >20cm(移动式和便携式 X射线设备） >20cm(介入放射学、 近台同室操作） |
— | 附录B.2 | ||
| 立位防护区 空气比释动能率 |
4. 2.3 | <50/xGy/h | ^50fiGy/h | 附录B.1 | ||
| 卧位防护区
空气比释动能率 |
4.2.3 | <150fxGy/h. | <150/iGy/h | 附录B.1 | ||
| 透视防护区(介入)工作人员 位置空气比释动能率 |
4.7.5 | <400pGy/h | <400/xGy/h | 附录B.1 | ||
| 牙
科 X 射 线 机 |
管电压 | 全景机 | 4. 4.1 | >60kV | >60kV | WS76 |
| 牙片机 | >60kV(管电压固定） >50kV(管电压可调） |
>60kV(管电压固定） ^50kV(管电压可调） |
||||
| 管电压指示的偏离 | 4.4.1 | 土 <10% | <10% | WS76 | ||
| 半值层 | 4.1.1 | 见附录A | 见附录A | WS76 | ||
| 曝光时间指示的偏离 | 4. 4.2 | 土（10%读数+ 1ms) | 土（10%读数+1ms) | WS76 | ||
| 集光筒出口平面的 最大几何尺寸(直径/对角线） |
4. 4.5 | <60mm | — | 附录B.5 | ||
7.2 X射线设备机房防护设施和机房周围辐射剂量检测要求
X射线设备机房防护设施和机房周围辐射剂量检测应满足下列要求：
a） X射线设备机房防护检测指标应符合5.4的规定。
b） X射线设备机房的防护检测应在巡测的基础上，对关注点的局部屏蔽和缝隙进行重点检测。
关注点应包括：四面墙体、地板、顶棚、机房的门、观察窗、传片箱、采光窗／窗体、管线洞口等，点位选取应具有代表性。
c） X射线设备机房放射防护安全设施在项目竣工时应进行验收检测，在使用过程中，应按卫生计生行政部门规定进行定期检测。
d） 在正常使用中，医疗机构应每日对门外工作状态指示灯、机房门的闭门装置进行检查，对其余防护设施应进行定期检查。
e） X射线设备及其机房防护检测合格并符合国家有关规定后方可投入使用。
11 附录A（规范性附录） X射线设备的半值层
各种X射线设备，对于可在正常使用中采用的一切配置，投向患者和受检者体表的X射线束的第一半值层应分别符合表A.1和表A.2的规定。
表A.1 医用诊断X射线设备的半值层
| 序号 | 应用类型 | X射线管电压
kv |
可允许的最小第一半值层
mmAl |
|
| 正常使用范围 | 所选择值 | |||
| 1 | 乳腺及低电压应用 | <50 | <30
30 40 50 |
0.3
0.4 0.5 |
| 2 | 采用口内片的
牙科应用 |
50〜70 | 50
60 70 |
1.5
1.5 1.5 |
| 50〜90 | 50
60 70 80 90 |
1.5
1.8 2.1 2.3 2.5 |
||
| 3 | 其他牙科应用 | 50〜70 | 50
60 70 |
1.2
1.3 1.5 |
| 50〜125 | 50
60 70 80 90 100 110 120 125 |
1.5
1.8 2.1 2.3 2.5 2.7 3.0 3.2 3.3 |
||
| 4 | 其他应用 | ^30 | <50
50 60 70 80 90 100 |
1.5
1.8 2.1 2.3 2.5 2.7 |
表A. 1 (续)
| 序号 | 应用类型 | X射线管电压
kV |
可允许的最小第一半值层 mmAl |
|
| 正常使用范围 | 所选择值 | |||
| 4 | 其他应用 | >30 | 110
120 130 140 150 >150 |
3.0
3.2 3.5 3.8 4.1 |
| 注1:各选择值中间的半值层可利用线性插值法获得。
注2:引自GB9706.12。 注3:小于及大于表列选择值可线性外推求得相应半值层。 |
||||
表A.1（续）
| 序号 | 应用类型 | X射线管电压
kV |
可允许的最小第一半值层 mmAl |
|
| 正常使用范围 | 所选择值 | |||
| 4 | 其他应用 | >30 | 110
120 130 140 150 >150 |
3.0
3.2 3.5 3.8 4.1 |
| 注1:各选择值中间的半值层可利用线性插值法获得。
注2:引自GB9706.12。 注3:小于及大于表列选择值可线性外推求得相应半值层。 |
||||
表A.2 介入X射线设备的半值层
| 应用类型 | X射线管电压
kV |
可允许的最小第一半值层
mmAl |
|
| 正常使用范围 | 所选择值 | ||
| 介入X射线设备应用 | — | <50
50 60 70 80 90 100 110 120 >120 |
1.8
2.2 2.5 2.9 3.2 3.6 3.9 4.3 |
| 注1:各选择值中间的半值层可利用线性插值法获得。
注2:引自GB9706.23;这些半值层是指在恒定电压下工作的总滤过为2.5mmAl的半值层。 注3:小于及大于表列选择值可线性外推求得相应半值层。 |
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